» Viewing 2020/12/02148965963526530.jpg // posted 2 weeks ago // 2000 x 1348 // 540 kiB

Score: 122044 / Images: 1196
4.3 after 6 Votes
30. Dec 2020 10:27
Tags: powder x-ray diffractometer in motion Kaspar Kallip 2015
Post in Forum:

2 Comments:

RIP 2 weeks ago
English: X-Ray crystallography is a tool used for identifying the atomic and molecular structure of a crystal. The movement of the machine during 80 second scan can give different view on how relatively slow scientific measurements can look frozen in time by shutter speed of 90 seconds.

Español: La cristalografía de rayos X es una técnica utilizada para identificar la estructura atómica y molecular de un cristal. En esta foto se utilizó un tiempo de exposición de 90 segundos que cubre el movimiento de rotación de 80 segundos del aparato durante el "escaneo" del cristal.

Français : La cristallographie aux rayons X est un outil utilisé pour identifier la structure atomique et moléculaire d'un cristal.

Polski: Rentgenografia strukturalna to technika używana do identyfikacji struktury atomowej i molekularnej kryształów. Do wykonania tej fotografii ustawiono czas ekspozycji na 90 s, który jest dłuższy niż 80 s, które potrzebuje dyfraktometr na „zeskanowanie” kryształu.

Čeština: Rentgenová krystalografie je analytická metoda pro určování struktury krystalů na základě jejich interakce s rentgenovým zářením.
Magyar: A röntgenkrisztallográfia egy eszköz, amely egy kristály atomi és molekuláris szerkezetének feltárására szolgál. Ez a fotó 90 másodperces expozíciós idővel készült, amely lefedi a készülék 80 másodpercig tartó forgását, mialatt egy kristályt „szkennel”

Македонски: Рендгенска кристалографија — постапка за утврдување на атомската и молекуларна структура на еден кристал.
Nederlands: Met behulp van röntgenstraling kan de atomaire en moleculaire structuur van kristallen geanalyseerd worden

Português: Cristalografia de raios X, uma técnica utilizada para identificar a estrutura atômica e molecular de um cristal.

Українська: Рентгеноструктурний аналіз використовується для визначення атомарної та молекулярної структури кристалу.